1、產(chǎn)品特點:
EIGER2 R CdTe 1M X 射線探測器將混合像素光子計數(shù)探測器的新發(fā)展和碲化鎘感光像素的高量子效率集合在一起。對于使用高能量 X 射線源或需要雙閾值設置時, EIGER2 R CdTe 1M 是良好的選擇。
2、核心優(yōu)勢:
– 高的量子效率、更短的測試時間和更高質(zhì)量的數(shù)據(jù)
– 即時觸發(fā)技術(shù)使得計數(shù)率大幅度提高
– 雙能閾值,可用于低背景和高背景的抑制
– 無讀出噪音和暗電流,確保了很好的信噪比
– 計數(shù)器具有同時讀/寫功能,確保了高動態(tài)范圍和無飽和的圖像
3、應用領域:
- 大分子晶體學(MX);
- 化學結(jié)晶學;
- 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS);
- μCT;
- 其它;
4、技術(shù)參數(shù):
EIGER2 R CdTe | 500K | 1M | 4M |
探測器模塊數(shù)量 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 |
有效面積:寬x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 x 79.7 | 155.1 X 162.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||
點擴散函數(shù) | 1 pixel | ||
能量閾值 | 2 | ||
能量范圍[KeV] | 8-24.2 | ||
閾值范圍[KeV] | 4-30 | ||
最大計數(shù)率(cps/mm2) | 9.8×108 | ||
計數(shù)器深度(bit/threshold) | 2×16 | ||
采集模式 | 同時讀/寫,死區(qū)時間為零 | ||
圖像位深度(bit) | 32 | ||
可選真空兼容 | Yes | ||
冷卻方式 | 水冷 | ||
尺寸(WHD)[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 |
重量 [kg] | 3.7 | 3.9 | 15 |